惠普HP4291B射頻阻抗分析儀

惠普HP4291B射頻阻抗分析儀

Agilent/HP4291B RF阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的***測量提供總體解
決方案。
描述 Agilent4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的***測量
的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在
***的阻抗范圍內(nèi)提供更的阻抗測量結(jié)果。
Agilent/HP4291B射頻阻抗特點(diǎn)
?基本精度:±0.8%
?***的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償技術(shù)
?四種元件用的測試夾具(被測件尺寸:0.5mm~20mm)
?在兩上通道內(nèi)獨(dú)立選擇參數(shù)
?直接讀出介電常數(shù),導(dǎo)磁率
?兩種材料用的夾具(工作溫度范圍:-55℃~-200℃)
HP4291B?能進(jìn)行多種分析(溫度、科爾圖、弛豫時間)
?多種掃描參數(shù)(頻率、交流電平、直流偏置、溫度)

Agilent/HP4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)shi測試信號；可在恒壓或恒流下
測量器件。用可選的直流偏置(達(dá)40V和100mA)使測量偏置獨(dú)立于阻抗特性。只要按一個按鈕，
內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。
Agilent/HP4291B有2個測量通道；每一個通道都可設(shè)置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參
數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以
LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒
溫箱或園片探測器這類外部測試設(shè)備，而不需要單獨(dú)的儀器控制器。

本公司***回收以下品牌各類儀器：

NI 、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GW INSTEK （固緯）

回收類別：

網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號發(fā)生器、信號分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測試儀、高頻信號源、頻率計、功率計、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬用表、靜電計/高阻表、函數(shù)信號發(fā)生器、LCR測試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測試儀、高壓機(jī)/耐壓測試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測儀、耦合板等等。